詳情介紹
PIKE衰減全反射附件的應用與特點
日期:2022-05-09 23:17
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摘要:
衰減全反射(Attenuated Total Reflection,ATR):光波入射時,入射面內偏振的單色平面光波在密-疏媒質的界上全反射時,光疏媒質中所形成的迅衰場(見衰減波)量可以被耦合到金屬或半導體的表面上而使表面等離激元(SP)或表面極化激元共振激發。全反射的光強因而發生劇邃衰減的現象。
利用光學中的迅衰場與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。
PIKE衰減全反射附件被廣泛應用于塑料、纖維、橡膠、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析。它是一個通用型的附件,可以用來分析,固體,液體,糊狀物,凝膠劑,及其它難處理的材料。 PIKE衰減全反射附件克服了傳統透射法測試的不足,簡化了樣品的制作和處理過程,極大地擴展了紅外光譜的應用范圍。
特點:
高紅外通量
多種晶體可選 - ZnSe, Diamond, Ge and Si crystal plates
溫度控制附件
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